缺陷数控制图（C控制图）用于监控工艺过程中产生的缺陷数的变化情况，特别适用于每批检测对象数目相同的情况。

确定缺陷数控制图（C控制图）的控制限的原则是3σ方法，由于一般情况下缺陷数服从泊松分布，如果已知泊松分布的参数λ，泊松分布的均值等于λ，标准偏差为λ的平方根，因此缺陷数控制图的控制限为：

一般情况下我们并不知道参数λ，可以按照下面的方法，根据采集的数据计算λ的估计值：设一共检验m批产品，每一批产品中的缺陷数分别为c_i,i=1,2,3,4...,m，则可以用这些缺陷数的平均值作为λ的估计值。

由此得到控制限为：

由于缺陷数不可能为负值，如果LCL为负值，则LCL=0。

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